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| >>環(huán)境試驗(yàn)箱檢測(cè)與校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi) |
| 環(huán)境試驗(yàn)箱檢測(cè)與校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi) |
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| 時(shí)間：2015/2/27 8:15:02 |
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在日常的溫度、濕度檢測(cè)和校準(zhǔn)過(guò)程中,我們會(huì)經(jīng)常遇到各式各樣的環(huán)境試驗(yàn)箱的檢測(cè)與校準(zhǔn),其中有高溫試驗(yàn)箱增多、干燥箱啟用、真空干燥箱、低溫試驗(yàn)箱估算、高低溫試驗(yàn)箱活動上、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱深入各系統、鹽霧試驗(yàn)箱等各種環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備產業。在以上各式各樣的環(huán)境試驗(yàn)箱檢測(cè)與校準(zhǔn)的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)也有多種多樣,其中可以分為以下三類(lèi):
一、機(jī)械電子工業(yè)部編寫(xiě)GB11158-1989《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》共享應用、GB10589-1989《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》工具、GB10592-1899《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10586-1989《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》情況較常見、GB10587-1989《鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等市場開拓。
二標準、電子工業(yè)部第五研究所編寫(xiě)的GB/T5170.1-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》、GB/T5170.2-1996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》重要意義、GB/T5170.5-1996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備》等規則製定。
三、河北省計(jì)量科學(xué)研究院編寫(xiě)的JJF1101-2003《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度引領、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》表現明顯更佳。
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