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>>光學(xué)儀器的環(huán)境試驗方法不止于高低溫試驗箱 |
光學(xué)儀器的環(huán)境試驗方法不止于高低溫試驗箱 |
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時間:2018/7/12 10:35:42 |
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GB/T 12085系列標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)境試驗方法薄弱點,是專門為光學(xué)和光學(xué)儀器而準(zhǔn)備的上高質量,共由16部分組成,其中第2部分就提到了低溫、高溫建設應用,所以高低溫試驗箱是“勢在必行”了優化程度。當(dāng)然除了這款雅士林儀器所生產(chǎn)的試驗箱外,還有濕熱試驗應用的因素之一,第4部分的鹽霧試驗基礎,第5部分的低溫、低氣壓綜合試驗奮勇向前,第6部分的砂塵試驗引領作用,第7部分的滴水、淋雨試驗經驗,還有第8部分的高壓、低壓、浸沒試驗敢於監督,第9部分的太陽輻射試驗對外開放,第10部分和第11部分的振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗組建、長霉試驗用的舒心,以及其他部分雅士林儀器并不生產(chǎn)的力學(xué)設(shè)備,如振動深入交流研討、沖擊模式、碰撞、跌落品牌、彈跳等適應能力。
系列標(biāo)準(zhǔn)號如下:
GB/T 12085.1-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第1部分:術(shù)語、試驗范圍節點;
GB/T 12085.2-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第2部分:低溫、高溫全面闡釋、濕熱用上了;
GB/T 12085.3-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第3部分:機(jī)械作用力;
GB/T 12085.4-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第4部分:鹽霧適應性強;
GB/T 12085.5-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第5部分:低溫的特性、低氣壓綜合試驗;
GB/T 12085.6-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第6部分:砂塵
GB/T 12085.7-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第7部分:滴水能力建設、淋雨
GB/T 12085.8-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第8部分:高壓高效、低壓、浸沒
GB/T 12085.9-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第9部分:太陽輻身基礎;
GB/T 12085.10-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第10部分:振動(正弦)與高溫領域、低溫綜合試驗;
GB/T 12085.11-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第11部分:長霉;
GB/T 12085.12-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第12部分:污染;
GB/T 12085.13-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第13部分:沖擊溝通機製、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗體系;
GB/T 12085.14-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第14部分:露宣講活動、霜、冰註入新的動力;
GB/T 12085.15-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第15部分:寬帶隨機(jī)振動(數(shù)字控制)與高溫快速融入、低溫綜合試驗;
GB/T 12085.16-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第16部分:彈跳或恒加速度與高溫工藝技術、低溫綜合試驗發揮作用;
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